隔膜厚度测试仪-思克
适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
主要特点
接触式测量原理
德国进口测厚传感器
触摸屏操作
扁平化人机交互界面显示
真彩色液晶显示试验数据、结果
手动、循环、预约定时多种测量模式
自动进样,支持左右双向进样
测试过程全自动完成
内嵌最*值、最小值、平均值、标准差数据统计分析功能
本机内置历史数据查询功能
配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告
配置标准通信接口
可支持 DSM 实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)
技术指标
测量范围:0~2mm(标配)
0~10mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:1~25 次/min(可调)
测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)
纸张:200mm2,50±1kPa(可选)
进样步距:0.1mm~1500mm
进样速度:0.1mm/s~150mm/s
电 源:AC 220V 50Hz
进样装置尺寸:287 mm (L)×180 mm (B)×210 mm (H)
主机外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)
进样装置净重:11kg
主机净重:38kg
执行标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
隔膜厚度测试仪-思克
产品配置
标准配置:
主机、自动进样装置、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件
选 购 件:
纸张测量头、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系
统注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER 思克保留修改权与最终解释权!
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